Select your language

Wzorce

Image
Image
Image
Image


Pełen zakres wzorców optycznych: odkształcenia, odbiciowe, koloru i wiele innych

Wzorce

Alt Text

 
WZORCE ODKSZTAŁCENIA

Wzorce te używane są do pomiaru zniekształcenia systemu obrazującego i do kalibracji obrazu. W ofercie wzorce linii, kropek i innych kształtów.
Alt Text

 
WZORCE ODBICIOWE


Wzorce odbicia dyfuzyjnego (PTFE lub Spectralon) i zwierciadlanego (także z certfikatem NIST).

Alt Text

 
WZORCE JAKOŚCI OBRAZU

Wzorce te są używane do oceny lub kalibracji systemu obrazującego poprzez określenie takich parametrów jakości obrazu jak: rozdzielczość, kontrast, głębia ostrości.
Alt Text

 
WZORCE FOTOMETRYCZNE

Wzorce do oceny fotometrycznej dokładności zestawu spektrofotometrycznego, w zestawie wzorce z roztworami o małej, średniej i wysokiej absorbancji. 2 modele: 200-450nm i 400-900m,.

Alt Text

 
WZORCE KOLORU

Cele testu poziomu koloru i szarości mierzą poziom wydajności kolorów lub skali szarości systemu obrazowania. Cele testowe poziomu koloru i szarości składają się z różnych wzorców kolorowych lub w skali szarości, które oceniają zakres dynamiki systemu obrazowania poprzez porównanie celu z obrazem systemu. Cele testowe poziomu szarości i koloru zapewniają wygodny i prosty sposób testowania poziomu szarości lub wydajności kolorów systemu obrazowania.
Alt Text

 
WZORCE ROZDZIELCZOŚCI

Wzorce rozdzielczości są używane do pomiarów dokładności systemów obrazujących np. w mikroskopii, fotografii. Dostępne w kilku wzorach (Ronchi, gwiazda), na szklanych płytkach i papierze fotograficznym.

Wzorce rozdzielczości


High Resolution Microscopy Slide Targets

High Precision Ronchi Rulings

Star Target Arrays

Pocket USAF Optical Test Pattern

UV Fused Silica and Fluorescent USAF 1951 Resolution Targets

Variable Frequency Targets

USAF 1951 Contrast Resolution Target

Clear Optical Path USAF Target

IEEE Target

Precision Ronchi Ruling Glass Slides

USAF 1951 and Dot Grid Target

USAF 1951 Glass Slide Resolution Targets

I3A/ISO 12233 Resolution Test Chart

NBS 1963A Resolution Target

Precision Ronchi Rulings on Opal Glass

Star Target

USAF 1951 Photographic Paper Resolution Targets

Sinusoidal Targets

Opal Glass Ronchi Ruling Slides

Resolving Power Chart

USAF Pattern Wheel Target

Wzorce odkształcenia


Concentric Square Target

Fixed Frequency Grid Distortion Targets

Checkerboard Calibration Targets

Line Grid Target

Diffuse Reflectance Grid Distortion Targets

USAF 1951 and Dot Grid Target

Wzorce jakości obrazu


EO Telecentricity Target

Multi-Function Calibration Target for Low Magnification Systems

Positioning Stages with Digital Micrometers

Dot and Square Calibration Target

Image Analysis Micrometers

Multi-Function High Magnification Calibration Targets

Reticle Calibration Stage Micrometer

Dual Axis Linear Scale Stage Micrometer

Kodak Imaging Chart

Multi-Grid Standard Stage Micrometer

Stage Micrometers

EO Machine Vision Stage Micrometers

Micro Line and Dot Standard Stage Micrometer

White Ivory Glass Reticle Targets

Wzorce koloru


Color Checkers

ISO-14524 Reflective Camera Contrast Chart

Spectralon® White Balance and Diffuse Reflectance Targets

Color Scanner Test Target

ISO-21550 Dynamic Range Film

Reflective Scanner Test Target

NIST Traceable Color Transmission Calibration Slides

Large Grayscale Target

EIA GrayScale Pattern Slide

Wzorce odbiciowe



Wzorce odbiciowe

Wzorce odbicia dyfuzyjnego (PTFE lub Spectralon) i zwierciadlanego (także z certfikatem NIST).


 Uwaga! Oprócz niżej wymienionych wzorców sprzedajemy też pozostałe wzorce z oferty firmy LABSPHERE.


Diffuse Standard for Reflectance Measurements

Ocean Optics offers two types of diffuse reflectance standards. The WS-1 uses a PTFE optical diffuser, a Lambertian material distinguished by its white matte finish and reflectivity >98% from 250-1500 nm and >95% from 250-2200 nm.

For field work or unclean environments, the WS-1-SL can be a good option. Its Spectralon diffusing material can be smoothed, flattened and cleaned if it gets pitted or dirty. Reflectivity is 99% from 400-1500 nm and >96% (250-2000 nm).


  • Diffusing materials – choose from PTFE or Spectralon standards
  • High reflectivity over broad range – >95% reflectivity from 250-2200 nm
  • More options – additional Spectralon reflectance standards and targets also available


Engineering SpecificationsWS-1WS-1-SL
Dimensions:38 mm diameter (housing)32 mm OD, 10 mm thick (tile)
Weight:30 g30 g
Spectral range:250-2000 nm250-2500 nm
Diffusing material:PTFESpectralon
Housing material:AluminumDelrin
Reflectivity:>98% (250-1500 nm)>95% (250-2200 nm)99% (400-1500 nm)>96% (250-2000 nm)


STAN Series Reflectance Standards

Ideal for Specular Reflectance Measurements

Ocean Optics offers specular reflectance standards for measuring shiny surfaces such as machined metals and semiconductor materials and low-reflectivity surfaces such as anti-reflective coatings and thin film coatings.

The STAN-SSH varies in reflectivity from 87%-98% over the 200-2500 nm wavelength range and is available in a version (STAN-SSH-NIST) calibrated to a NIST master standard. The NIST calibration data range is 250-2500 nm.

For measuring surfaces with low specular reflectivity, we recommend the STAN-SSL, which has ~4% reflectivity from 200-2500 nm. Add a STAN-HOLDER to keep your standards in place and to protect their coatings.

  • Specular reflectance – options for high and low specular reflectivity
  • Calibrated standard – NIST-traceable version available
  • Convenient holder – optional accessory holds standard in place


Engineering SpecificationsSTAN-SSHSTAN-SSH-NISTSTAN-SSL
Dimensions (substrate):31.75 mm OD x 6.35 mm height31.75 mm OD x 6.35 mm height31.75 mm OD x 6.35 mm height
Dimensions (housing):38 mm OD x 19 mm height38 mm OD x 19 mm height38 mm OD x 19 mm height
Weight:40 g40 g40 g
Reflectance material:Al mirror on fused silica substrateAl mirror on fused silica substrateSchott ND9 glass
Reflectivity:~87%-93% (200-1000 nm)~87%-93% (250-1000 nm)~5% (200-950 nm)
~93%-98% (1000-2500 nm)~93%-98% (1000-2500 nm)~4% (950-2500 nm)


Image Overlay

Spectralon® White Balance and Diffuse Reflectance Targets

Wzorce fotometryczne

Wzorce do oceny fotometrycznej dokładności zestawu spektrofotometrycznego, w zestawie wzorce z roztworami o małej, średniej i wysokiej absorbancji. 2 modele: 200-450nm i 400-900m,.



STAN-ABS absorbance standards are handy tools for verifying the photometric accuracy of your spectrometer setup. Ocean Optics offers two calibration standards kits – the STAN-ABS-UV for the spectral range from 200-450 nm and the STAN-ABS-VIS for the range from 400-900 nm. Each kit comprises a background reference for low, medium and high absorbance solutions and is ready to use without additional solutions preparation. All standards are non-toxic and have a one-year shelf life.


  • NIST-traceable – ensure accuracy in absorbance measurements at specified wavelengths
  • UV and Visible kits – options for 200-450 nm and 400-900 nm wavelength ranges
  • Ready to use – no dilution or solutions preparation necessary


Engineering SpecificationsSTAN-ABS
Absorbance wavelengths:200-450 nm (STAN-ABS-UV) and 400-900 nm (STAN-ABS-VIS)
Volume:125 mL
Aqueous solution:<0.1% styrene divinylbenzene copolymer beads in 90-100% water
NIST traceability:Kit-to-kit variance <+/-1%

Dostawcy

Nasi partnerzy w tej kategorii
Image
Image
Image

Heard on the Internet

 

Imagination is more important than knowledge.

 Albert Einstein