Analizatory
wiązki lasera

• Wysoka rozdzielczość dla dokładnych pomiarów profilu małej wiązki

• Czujnik dużego obszaru do profilowania dużej wiązki

• USB 3.0 dla najszybszej szybkości transferu

Profilometry Edmund Optics® są przeznaczone do pomiaru szerokiego zakresu rozmiarów wiązek laserowych, dostarczając informacji w celu optymalizacji działania systemu laserowego. Te profilery wiązki laserowej są wyposażone w czujniki o wysokiej rozdzielczości i dużej powierzchni, aby zapewnić dokładne profilowanie zarówno małych, jak i dużych wiązek laserowych.

Dostępne w dwóch rozmiarach profile belki są gwintowane do montażu 1” x 32 TPI, dzięki czemu są kompatybilne z akcesoriami C-Mount. Profilery wiązki Edmund Optics są wyposażone w zewnętrzny wyzwalacz do synchronizacji kamery z laserem impulsowym, a także są kompatybilne z USB 2.0 i 3.0, co zapewnia najszybszą w branży szybkości transferu. Do każdego profilera wiązki dołączone jest również intuicyjne oprogramowanie do analizy wiązki z wieloma opcjami wyświetlania (2D, 3D i XY), a także wieloma narzędziami kontrolnymi, takimi jak funkcja odejmowania tła i dopasowanie Gaussa.


PARAMETRY

• Zakres długości fali (nm): 350 - 1150

• Dołączone filtry: gęstość neutralna, OD 4,0 (x1)

• Mocowanie: 1" x 32 TPI (mocowanie C)

• Rozmiar piksela, wys. x szer. (μm): 5,5 x 5,5

• Piksele (wys. x szer.): 2048 x 2048 (4,2 megapiksela)

• Obszar wykrywania, wys. x szer. (mm): 11,3 x 11,3

• Interfejs komputera: Wyświetla: 2D, 3D, XY i średnicę śledzenia wiązki. Definicje: D4σ, 1/e2 (13,5%), FWHM (50%), 86% przysłony, Sterowanie buforem: Otwórz plik, Zapisz bieżące dane, Zapisz wszystkie dane, Poprzedni/następny obraz, Wyczyść, Animacja, Raport: 2D , 3D, XY, Miary i parametry. Narzędzie Print Screen w BMP (2D i 3D)

• Wymagania dotyczące wiązki wejściowej: Minimum 55 μm (10 x 10 pikseli)

• Oprogramowanie: USB w zestawie

Coherent® Lasercam™ Beam Profiler charakteryzuje się doskonałym stosunkiem sygnału do szumu i liniową odpowiedzią, co umożliwia dokładne pomiary wymiarów i jednorodności wiązki laserowej impulsowej i CW.

• Opcje 12- i 14-bitowego cyfrowego interfejsu USB 2.0

• Wysoka czułość i zakres dynamiki
  Dołączone intuicyjne oprogramowanie BeamView™

• Nowe oprogramowanie interfejsu BeamView™ 4.4 obsługuje sterowanie TCP/IP i pakiet bibliotek NI LabVIEW™, umożliwiając wydajną i płynną integrację profilowania wiązki z dowolną aplikacją. 

Przykłady funkcji analizy, które można wykonać na uzyskanych obrazach wiązki, obejmują:

• położenie środka ciężkości wiązki, pozycję szczytowego natężenia wiązki

• stabilność wskazywania

• całkowitą względną moc/energię w wiązce

• szczytową moc/gęstość energii wiązki

• rozbieżność wiązki

• eliptyczność wiązki

• intensywność wiązki

• jednorodność

• dopasowanie Gaussa

• średnica/szerokość wiązki na podstawie sekundowych momentów

• wybrany przez użytkownika procent energii szczytowej/całkowitej.

PARAMETRY

• Mount: C-Mount

• Operating Temperature (°C): -20 to 60

• Dimensions (mm): 68.1 x 79.3 x 40.9 (with LDFP)

• Weight (g): 110 (without cable)

• Spectral Range: 300 - 1100nm (400 - 1100nm with LDFP)

• Signal to Noise S/N Ratio (dB): >60

• Gain (dB): Gain is factory set for optimum linear dynamic range, not user adjustable

• Gamma: 1.00

• Exposure Time: Fixed at 10ms

• Frame Rate: 27Hz (Live Mode), 10Hz (with calculations)

• Damage Threshold, By Design: 32 mJ/cm2 @ 1.06μm without Low Distortion Faceplate

• Damage Threshold, Pulsed: 32 mJ/cm2 @ 1.06μm without Low Distortion Faceplate

• Peak Intensity: Recommended: 75-95% of camera saturation

• Pulse Trigger: TTL, rising or falling edge

• Dimensional Accuracy: ±1% (typical), ±5% max (over entire spectral and dimensional range)

• Peak Noise (nW/cm2): 24 (at 632.8nm)

• Operating System: Windows®